    電子元器件失效分析實用技術(shù)培訓

第一講 電子元器件失效分析程序和方法
1、失效分析技術(shù)常用名詞解釋；
2、失效分析的作用；
3、失效的程序和方法；
4、失效分析要求以及注意的問題；
5、失效分析手段（儀器、設(shè)備）使用技巧。
第二講：失效分析經(jīng)典案例
1、完整分析過程的案例： 通過具體的分析案例，介紹失效分析的全過程。
該案例中詳細講述元器件失效中如何根據(jù)產(chǎn)品的基本信息（工作原理、材料、結(jié)構(gòu)）和失效的表現(xiàn)制定分析路線（分析思路），
采用合適的分析手段提取失效證據(jù)，并及時根據(jù)所提取的信息（證據(jù)）調(diào)整分析思路；
以及對分析過程中提取的信息（證據(jù)）進行綜合分析，實現(xiàn)準確診斷。
同時，通過這個具體的分析案例，講述電子元器件失效中的分析層次的問題。
2、對于失效機理和實效原因的經(jīng)典案例：
按照電子元器件的失效機理或失效原因分類，講解各種典型失效的失效特征，診斷技巧。案例包含元器件的各個門類，
包括電阻器、電容器、電感器、二極管、三極管、集成電路、組件、板件（PCBA）：
1）材料缺陷引起的失效；
2）結(jié)構(gòu)缺陷引起的失效；
3）制造工藝缺陷引起；
4）靜電損傷引起的失效；
5）電浪涌引起的失效；
6）機械應(yīng)力引起的失效；
7）熱變應(yīng)力引起的失效；
8）污染腐蝕引起的失效；
9）使用不當引起的失效
10）元器件固有機理引起的失效