 班級規(guī)模及環(huán)境--熱線:4008699035 手機:15921673576( 微信同號) |
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每期人數(shù)限3到5人。 |
| 上課時間和地點 |
上課地點：【上海】：同濟大學(滬西)/新城金郡商務(wù)樓(11號線白銀路站) 【深圳分部】：電影大廈(地鐵一號線大劇院站)/深圳大學成教院 【北京分部】：北京中山學院/福鑫大樓 【南京分部】：金港大廈(和燕路) 【武漢分部】：佳源大廈（高新二路） 【成都分部】：領(lǐng)館區(qū)1號（中和大道） 【沈陽分部】：沈陽理工大學/六宅臻品 【鄭州分部】：鄭州大學/錦華大廈 【石家莊分部】：河北科技大學/瑞景大廈 【廣州分部】：廣糧大廈 【西安分部】：協(xié)同大廈
最近開課時間(周末班/連續(xù)班/晚班）：2020年3月16日 |
| 實驗設(shè)備 |
☆資深工程師授課
☆注重質(zhì)量
☆邊講邊練
☆合格學員免費推薦工作
★實驗設(shè)備請點擊這兒查看★ |
| 質(zhì)量保障 |
1、培訓過程中，如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好，可免費在以后培訓班中重聽；
2、培訓結(jié)束后,授課老師留給學員聯(lián)系方式,保障培訓效果,免費提供課后技術(shù)支持。
3、培訓合格學員可享受免費推薦就業(yè)機會。 |
課程大綱 |
招生對象
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課程內(nèi)容
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課程特點：案例教學、深入淺出、實踐結(jié)合理論推理
適用對象：電路工程師、測試工程師、系統(tǒng)工程師、技術(shù)經(jīng)理
講師介紹：
武老師
電子工程碩士，研究領(lǐng)域：電子產(chǎn)品系統(tǒng)可靠性設(shè)計與測試技術(shù)。
曾任航天二院總體設(shè)計所設(shè)計師，機電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。
對電子產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計、可靠性設(shè)計有較深入研究，曾在學術(shù)會議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章，曾出版專業(yè)書籍《嵌入式系統(tǒng)可靠性設(shè)計技術(shù)與案例解析》（北航出版社）。
曾為航天、中電、中科院、航空、醫(yī)療電子、通信、安防、電力電子、分析儀器、工業(yè)控制、消費類電子等多個行業(yè)上百家客戶提供相關(guān) 培訓 和 圖紙審核輔導 技術(shù)服務(wù)。
專注于電子工程設(shè)計、工程數(shù)學、技術(shù)方法論 三者相結(jié)合的研究。
課程大綱：
1、 測試基礎(chǔ)
1.1、研發(fā)樣機測試與中試樣機測試的區(qū)別
1.2、原理驗證和一致性驗證的判據(jù)區(qū)別
1.3、測試的工具方法類型（模擬測試、仿真、工程計算、規(guī)范審查）
1.4、基于單一故障的接口故障分析及測試模擬方法
2、標準符合性測試
3、用戶現(xiàn)場模擬測試
3.1、設(shè)計調(diào)查表
3.2、用戶現(xiàn)場環(huán)境條件（環(huán)境對產(chǎn)品零部件的失效影響及模擬測試方法）
3.3、人機接口條件（操作者認知與習慣的潛在隱患防護）
3.4、關(guān)聯(lián)設(shè)備的相互影響（能量與信號輸入輸出的相互潛在影響及模擬測試方法）
4、基于失效機理的應(yīng)力測試
4.1、常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應(yīng)力
4.2、針對失效機理的模擬測試用例設(shè)計
5、應(yīng)力變化率測試
5.1、環(huán)境應(yīng)力變化率的影響
5.2、負載應(yīng)力變化率的影響
5.3、能量及信號輸入變化率的影響
5.4、過渡過程應(yīng)力對設(shè)備故障的影響
6、組合應(yīng)力測試
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現(xiàn)場多應(yīng)力組合示例
7、嵌入式軟件測試
7.1、路徑覆蓋的測試用例設(shè)計方法
7.2、數(shù)據(jù)覆蓋的測試用例設(shè)計方法
7.3、黑盒測試與白盒測試的測試用例設(shè)計方法
8、一致性測試
8.1、一致性測試方法
8.2、數(shù)據(jù)隱患分析
9、應(yīng)力分析
9.1、關(guān)聯(lián)設(shè)備互動分析
9.2、過渡過程應(yīng)力
9.3、負載波動分析
9.4、單一故障分析
10、器件失效規(guī)律與分析方法
10.1、持續(xù)性應(yīng)力與浪涌應(yīng)力的區(qū)別
10.2、電壓應(yīng)力與電流應(yīng)力的故障現(xiàn)象區(qū)別
10.3、MSD與機械應(yīng)力損傷的特征、成因、解決措施
10.4、基于端口特性阻抗曲線的失效測試分析方法
10.5、常用器件失效機理、失效特征、應(yīng)對措施
11、板卡信號質(zhì)量測試與仿真
11.1、板卡信號的常見特征和故障機理
11.2、測試分析
11.3、原理圖仿真和PCB仿真 |
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