該課程是對(duì)可測(cè)試設(shè)計(jì)（DFT）內(nèi)容的一個(gè)系統(tǒng)化的介紹。通過(guò)對(duì)該課程的學(xué)習(xí)，學(xué)員不僅能對(duì)DFT的概念及理論有系統(tǒng)的認(rèn)識(shí)，更重要的是通過(guò)課堂內(nèi)容及實(shí)驗(yàn)的講解，可以對(duì)DFT所涉及的問(wèn)題有一定的分析和解決能力。本課程涵蓋常用的方法---掃描合成（SCAN synthesis）,內(nèi)建自我測(cè)試（BIST），自動(dòng)測(cè)試向量產(chǎn)生（automatic test pattern generation）,及錯(cuò)誤模型（fault simulation）等，
課程依托大型SOC項(xiàng)目，系統(tǒng)介紹了在實(shí)際項(xiàng)目中，怎樣考慮所面臨的問(wèn)題，并最終采取有效的方法
解決測(cè)試品質(zhì)及測(cè)試成本等問(wèn)題。


本課程適合于使用數(shù)字電路進(jìn)行科研和芯片設(shè)計(jì)的學(xué)生和工程師，也適合于有志于從事數(shù)字芯片設(shè)計(jì)工作，期望進(jìn)入數(shù)字芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域的相關(guān)人員。參加學(xué)習(xí)的學(xué)員可以是零基礎(chǔ)的理工科本科生或研究生。

        1、培訓(xùn)過(guò)程中，如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好，可免費(fèi)在以后培訓(xùn)班中重聽(tīng)；
        2、培訓(xùn)結(jié)束后,授課老師留給學(xué)員聯(lián)系方式,保障培訓(xùn)效果,免費(fèi)提供課后技術(shù)支持。
        3、培訓(xùn)合格學(xué)員可享受免費(fèi)推薦就業(yè)機(jī)會(huì)。

課程大綱：

1. VLSI test

2. DFT要點(diǎn)

3. DFT設(shè)計(jì)流程

4. DFT設(shè)計(jì)技巧

5. Fault model

6. ATPG

7. ATPG技巧

8. Fault simulation

9. Fault 要點(diǎn)

10. Fault 技巧

11. Fault 流程

12. Scan

13. 掃描技巧

14. 掃描要點(diǎn)

15. 掃描流程

16. JTAG

17. Logic BIST

18. Test compression

19. Memory test

20. Memory 測(cè)試要點(diǎn)

21. Memory測(cè)試流程

22. Memory測(cè)試技巧

23. scan chain/ BSD/BIST　概念與設(shè)計(jì)方法

24.DFT 的測(cè)試原理/測(cè)試方法( D算法　向量產(chǎn)生與仿真)

25.BSD 基本單元和JTAG測(cè)試　

1.Scan概念及方法介紹

2.Scan實(shí)現(xiàn)流程及問(wèn)題解決

3.Scan DRC violation講解及解決方法

4.Scan技巧

1.BIST/MBIST 方法

2.Memory類型介紹

3.BIST solution

4.MBIST算法

5.MBIST驗(yàn)證

6.BIST/MBIST 技巧